SIMONバリアントの脆弱な構造の特定

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2024-03-14
• タイトル: SIMONバリアントの脆弱な構造の特定
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Discovery of a Vulnerable Structure of SIMON Variants
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: ICSS(5)
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 東海大学
• 著者所属: 国立研究開発法人情報通信研究機構
• 著者所属: 東海大学
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Tokai University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): NICT
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Tokai University
• 著者名: 渡部, 颯斗; 伊藤, 竜馬; 大東, 俊博
• 著者名(英): Hayato, Watanabe; Ryoma, Ito; Toshihiro, Ohigashi
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: SCIS 2024 において，渡部らは深層学習ベースの出力予測攻撃を軽量ブロック暗号 SIMON のパラメータを変更した SIMON バリアントに適用した．結果として，彼らは深層学習がいくつかの SIMON バリアントにおける差分・線形特性確率の変化を追随できることを確認するとともに，深層学習がこれらの確率変化に依存しない未知の特性を検知できることを明らかにした．そこで，本研究では，いくつかの SIMON バリアントにおける未知の特性に関して詳細な分析を行い，SIMON バリアントの脆弱な構造を特定することを目的とする．具体的には，どのような SIMON バリアントの構造が深層学習ベースの出力予測攻撃に対して脆弱になるのかを明らかにするために網羅的な実験を行うとともに，SIMON バリアントの脆弱な構造の根本的な原因について考察した．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: In SCIS 2024, Watanabe et al. applied a deep learning-based output prediction attack to SIMON variants, which are variants of the lightweight block cipher SIMON. As a result, they confirmed that the deep learning-based output prediction attack can follow changes in differential and linear characteristic probabilities in SIMON variants and clarified that the attack can also detect unknown properties without depending on the changes in these probabilities. In this paper, we examine these unknown properties in detail and identify the vulnerable structure of the SIMON variants. Specifically, we have conducted a comprehensive analysis to clarify what structures are vulnerable to the deep learning-based output prediction attack and have considered root causes in such vulnerable structures of SIMON variants.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA12628305
• 書誌情報: 研究報告セキュリティ心理学とトラスト（SPT）; 巻 2024-SPT-54, 号 34, p. 1-8, 発行日 2024-03-14
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-8671
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会