@inproceedings{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00231386,
 author = {根津, 直也 and 山田, 浩史},
 book = {コンピュータシステム・シンポジウム論文集},
 month = {Nov},
 note = {DRAMのようなメモリデバイスでは，その動作中の意図しないビット反転によりメモリエラーが発生することがある．インメモリkey-value stores（KVSes）はそのメモリフットプリントの大きさからメモリエラーによる影響を受けやすいため，メモリエラーに対する堅牢性を持たせるためのソフトウェアメカニズムが多く開発されている．しかし，このようなメモリエラーハンドラのテストは，ハンドラがイベント駆動型であること，ハンドラの動作がエラーの生じたメモリオブジェクトに依存すること，インメモリKVSが巨大なメモリ空間内で様々なオブジェクトを管理すること，といった特徴から，効率的にテストすることが困難である．本論文では，インメモリKVSのメモリエラーハンドラのランタイムテストをサポートするMemFIを提案する．本アプローチでは，目的のエラーハンドラをテストするためにメモリオブジェクトレベルでのフォールトインジェクションを実行し，加えてKVSの同一内部状態におけるテストの円滑化を実現する．MemFIの有効性を示すために，広く使われるインメモリKVSであるmemcached 1.6.9に耐メモリエラーメカニズムを組み込み，MemFIのプロトタイプを使用してその動作をテストした．その結果，MemFIベースのランタイムテストでは，意図したエラー処理メカニズムの動作を正しく検証できることがわかった．また，独自のコストモデルに基づき，従来のフォールトインジェクション手法とMemFIを比較することで，その効率性を示す．},
 pages = {36--46},
 publisher = {情報処理学会},
 title = {インメモリKey-Value Store向けメモリエラーハンドラのテスト支援},
 volume = {2023},
 year = {2023}
}