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  1. 研究報告
  2. システムとLSIの設計技術(SLDM)
  3. 2023
  4. 2023-SLDM-204

液晶ホログラフィックメモリを持つ耐放射線光再構成型ゲートアレイへの並列構成試験

https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/228909
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/228909
f33a9216-d54b-486a-89b4-d39c9117da43
名前 / ファイル ライセンス アクション
IPSJ-SLDM23204042.pdf IPSJ-SLDM23204042.pdf (1.6 MB)
Copyright (c) 2023 by the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers This SIG report is only available to those in membership of the SIG.
SLDM:会員:¥0, DLIB:会員:¥0
Item type SIG Technical Reports(1)
公開日 2023-11-10
タイトル
タイトル 液晶ホログラフィックメモリを持つ耐放射線光再構成型ゲートアレイへの並列構成試験
タイトル
言語 en
タイトル Parallel configuration experiment for a radiation-hardened optically reconfigurable gate array with a holographic polymer-dispersed liquid crystal memory
言語
言語 jpn
キーワード
主題Scheme Other
主題 新FPGAの設計と検証
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
資源タイプ technical report
著者所属
岡山大学大学院自然科学研究科
著者所属
岡山大学大学院自然科学研究科
著者所属
神戸市立工業高等専門学校
著者所属
岡山大学大学院自然科学研究科
著者所属(英)
en
Graduate School of Natural Science and Technology, Okayama University
著者所属(英)
en
Graduate School of Natural Science and Technology, Okayama University
著者所属(英)
en
Kobe City College of Technology
著者所属(英)
en
Graduate School of Natural Science and Technology, Okayama University
著者名 後藤, 彩絵

× 後藤, 彩絵

後藤, 彩絵

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渡邊, 実

× 渡邊, 実

渡邊, 実

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荻原, 昭文

× 荻原, 昭文

荻原, 昭文

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渡邊, 誠也

× 渡邊, 誠也

渡邊, 誠也

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著者名(英) Sae, Goto

× Sae, Goto

en Sae, Goto

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Minoru, Watanabe

× Minoru, Watanabe

en Minoru, Watanabe

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Akifumi, Ogiwara

× Akifumi, Ogiwara

en Akifumi, Ogiwara

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Nobuya, Watanabe

× Nobuya, Watanabe

en Nobuya, Watanabe

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論文抄録
内容記述タイプ Other
内容記述 集積回路は放射線に対して脆弱であり,宇宙空間や原子力発電所など強い放射線環境下において利用される集積回路は常に放射線による影響を受ける.そのため,既存の集積回路では,強放射線環境下において一時的なエラーや恒久的な故障が発生する問題がある.そこで我々は耐放射線性能を飛躍的に高めた光再構成型ゲートアレイの研究,開発を行っている.本稿では,放射線耐性を高めた光再構成型ゲートアレイ VLSI の詳細と,液晶ホログラフィックメモリを使用した試験結果について報告する.
論文抄録(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 Very large scale integrations (VLSIs) are vulnerable to radiation. VLSIs used in strong radiation environments such as space environment and nuclear power plants are always affected by radiation. Soft-errors and permanent failures on current VLSIs are caused by radiation. Therefore, we’ve been developing radiation-hardened optically reconfigurable gate arrays. In this paper, we present a proposal of an optically reconfigurable gate array using a holographic polymer-dispersed liquid crystal memory that can support a perfect parallel configuration and the experimental results.
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11451459
書誌情報 研究報告システムとLSIの設計技術(SLDM)

巻 2023-SLDM-204, 号 42, p. 1-6, 発行日 2023-11-10
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 2188-8639
Notice
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
出版者
言語 ja
出版者 情報処理学会
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Ver.1 2025-01-19 11:40:32.302739
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