@techreport{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00228902,
 author = {林, 佑亮 and 長谷川, 陸宇 and 弘原海, 拓也 and 門田, 和樹 and 三木, 拓司 and 永田, 真 and Yusuke, Hayashi and Rikuu, Hasegawa and Takuya, Wadatsumi and Kazuki, Monta and Takuji, Miki and Makoto, Nagata},
 issue = {35},
 month = {Nov},
 note = {暗号集積回路 (IC) チップに対する故障注入攻撃における故障注入手法として，これまで正確性のあるレーザーが代表的な手法としてあげられてきた．しかし，レーザーは攻撃コストの面で課題が存在する．そこで，レーザーと比較して攻撃コストの低い擾乱注入手法であるチップ裏面に対する電圧パルスに着目し，実際に暗号 IC チップに対して故障注入を行った．そして，故障注入によって得られた故障暗号文を用いて差分故障解析 (DFA) を行い秘密鍵の導出に成功した．, Lasers have been the leading method of fault injection in fault injection attacks on cryptographic integrated circuit (IC) chips. However, lasers present a challenge in terms of attack cost. Therefore, we focused on the voltage pulse to the backside of the chip, which is a disturbance injection method with lower attack cost compared to the laser, and actually performed fault injection on a cryptographic IC chip. Then, we performed differential fault analysis (DFA) using the fault ciphertext obtained by fault injection and succeeded in deriving the secret key.},
 title = {裏面電圧故障注入を用いた差分故障解析による秘密鍵導出},
 year = {2023}
}