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アイテム
確率的ADC向けコンパレータのオフセット電圧測定回路
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/228843
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/228843b5217db4-df1f-45e1-81a0-fe47102109b9
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Copyright (c) 2023 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||||
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| 公開日 | 2023-10-31 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | 確率的ADC向けコンパレータのオフセット電圧測定回路 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| タイトル | Offset Voltage Measurement Circuit of Comparator for Stochastic ADC | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||
| キーワード | ||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||
| 主題 | ポスター | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||||
| 著者所属 | ||||||||||
| 東京電機大学 | ||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||
| 東京電機大学 | ||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||
| en | ||||||||||
| Tokyo Denki Uniersity | ||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||
| en | ||||||||||
| Tokyo Denki Uniersity | ||||||||||
| 著者名 |
武田, 拓朗
× 武田, 拓朗
× 小松, 聡
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| 論文抄録 | ||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||
| 内容記述 | 確率的 ADC はコンパレータのオフセット電圧ばらつきを用いている.コンパレータのオフセット電圧は MOS FET の閾値電圧に大きく依存するため,オフセット電圧ばらつきは MOS FET の製造ばらつきによって生じる.確率的 ADC はオフセット電圧ばらつきによって特性が変化するが,実際に製造してみなければ特性がわからない.本研究では MOS FET のオフセット電圧ばらつき特性を調べるため,コンパレータのオフセット電圧を測定する TEG 回路を設計し,オフセット電圧ばらつきを測定することを目的とする.アレイ状に多数のコンパレータを設計し,任意のコンパレータのオフセット電圧を測定する回路を提案する.Rohm0.18μmCMOS で測定用 TEG 回路を設計し,モンテカルロシミュレーションにてオフセット電圧を測定可能であることを確認した.今後は,試作したチップの測定を行い,提案回路の評価を行う. | |||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||
| 収録物識別子 | AA11451459 | |||||||||
| 書誌情報 |
研究報告システムとLSIの設計技術(SLDM) 巻 2023-SLDM-203, 号 8, p. 1-4, 発行日 2023-10-31 |
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| ISSN | ||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||
| 収録物識別子 | 2188-8639 | |||||||||
| Notice | ||||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||||
| 出版者 | ||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||||