ログイン 新規登録
言語:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. 研究報告
  2. システムとLSIの設計技術(SLDM)
  3. 2023
  4. 2023-SLDM-203

確率的ADC向けコンパレータのオフセット電圧測定回路

https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/228843
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/228843
b5217db4-df1f-45e1-81a0-fe47102109b9
名前 / ファイル ライセンス アクション
IPSJ-SLDM23203008.pdf IPSJ-SLDM23203008.pdf (1.1 MB)
Copyright (c) 2023 by the Information Processing Society of Japan
オープンアクセス
Item type SIG Technical Reports(1)
公開日 2023-10-31
タイトル
タイトル 確率的ADC向けコンパレータのオフセット電圧測定回路
タイトル
言語 en
タイトル Offset Voltage Measurement Circuit of Comparator for Stochastic ADC
言語
言語 jpn
キーワード
主題Scheme Other
主題 ポスター
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
資源タイプ technical report
著者所属
東京電機大学
著者所属
東京電機大学
著者所属(英)
en
Tokyo Denki Uniersity
著者所属(英)
en
Tokyo Denki Uniersity
著者名 武田, 拓朗

× 武田, 拓朗

武田, 拓朗

Search repository
小松, 聡

× 小松, 聡

小松, 聡

Search repository
論文抄録
内容記述タイプ Other
内容記述 確率的 ADC はコンパレータのオフセット電圧ばらつきを用いている.コンパレータのオフセット電圧は MOS FET の閾値電圧に大きく依存するため,オフセット電圧ばらつきは MOS FET の製造ばらつきによって生じる.確率的 ADC はオフセット電圧ばらつきによって特性が変化するが,実際に製造してみなければ特性がわからない.本研究では MOS FET のオフセット電圧ばらつき特性を調べるため,コンパレータのオフセット電圧を測定する TEG 回路を設計し,オフセット電圧ばらつきを測定することを目的とする.アレイ状に多数のコンパレータを設計し,任意のコンパレータのオフセット電圧を測定する回路を提案する.Rohm0.18μmCMOS で測定用 TEG 回路を設計し,モンテカルロシミュレーションにてオフセット電圧を測定可能であることを確認した.今後は,試作したチップの測定を行い,提案回路の評価を行う.
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11451459
書誌情報 研究報告システムとLSIの設計技術(SLDM)

巻 2023-SLDM-203, 号 8, p. 1-4, 発行日 2023-10-31
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 2188-8639
Notice
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
出版者
言語 ja
出版者 情報処理学会
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2025-01-19 11:41:55.550168
Show All versions

Share

Mendeley Twitter Facebook Print Addthis

Cite as

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX

Confirm


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3