@inproceedings{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00227395,
 author = {溝田, 桃菜 and 細川, 利典 and 吉村, 正義 and 新井, 雅之 and Momona, Mizota and Toshinori, Hosokawa and Masayoshi, Yoshimura and Masayuki, Arai},
 book = {DAシンポジウム2023論文集},
 month = {Aug},
 note = {VLSI のセル内故障を網羅するためにゲート網羅故障モデルが提案されている．ゲート網羅故障モデルはゲート数と故障数が比例の関係にあるため，大規模回路では故障数やテストパターン数が増大する．それゆえ，ゲート網羅故障数を削減するために領域網羅故障モデルが提案されている．しかしながら，テストパターン数が多いことや故障検出率が低いことが課題である．これらの課題解決を目的とし，セルにおけるテスト不能故障を考慮したブロック分割手法が提案されている．本論文では，テスト不能故障を考慮したブロック分割手法を 3 通りの制約で実験をおこない，それぞれのテストパターン数やテスト生成時間，ゲート網羅故障検出率を示す．, A gate-exhaustive fault model has been proposed to cover cell-internal defects in VLSI. The gate-exhaustive fault model has a proportional relationship between the number of gates and the number of faults. Thus, the numbers of gate-exhaustive faults and test patterns drastically increase for large circuits. To reduce the number of gate-exhaustive faults, a region-exhaustive fault model has been proposed. However, the large numbers of test patterns and the low fault coverage are problems. To resolve these problems, we proposed a block partitioning method that consider untestable gate-exhaustive faults. In this paper, we experimentally evaluate the block partitioning methods considering untestable faults with three different constraints, and show the number of test patterns, the test generation time, and the gate-exhaustive fault coverage for three methods.},
 pages = {187--192},
 publisher = {情報処理学会},
 title = {領域網羅故障テストのテストパターン数及びその品質評価},
 volume = {2023},
 year = {2023}
}