領域網羅故障テストのテストパターン数及びその品質評価

• Item type: Symposium(1)
• 公開日: 2023-08-23
• タイトル: 領域網羅故障テストのテストパターン数及びその品質評価
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Evaluations for the Number of Test Patterns and its Quality on Region Exhaustive Fault Testing
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: テスト・信頼性
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
• 資源タイプ: conference paper
• 著者所属: 日本大学大学院生産工学研究科
• 著者所属: 日本大学生産工学部
• 著者所属: 京都産業大学情報理工学部
• 著者所属: 日本大学生産工学部
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Industrial Technology, Nihon University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): College of Industrial Technology, Nihon University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Faculty of Information Science and Engineering, Kyoto Sangyo University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): College of Industrial Technology, Nihon University
• 著者名: 溝田, 桃菜; 細川, 利典; 吉村, 正義; 新井, 雅之
• 著者名(英): Momona, Mizota; Toshinori, Hosokawa; Masayoshi, Yoshimura; Masayuki, Arai
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: VLSI のセル内故障を網羅するためにゲート網羅故障モデルが提案されている．ゲート網羅故障モデルはゲート数と故障数が比例の関係にあるため，大規模回路では故障数やテストパターン数が増大する．それゆえ，ゲート網羅故障数を削減するために領域網羅故障モデルが提案されている．しかしながら，テストパターン数が多いことや故障検出率が低いことが課題である．これらの課題解決を目的とし，セルにおけるテスト不能故障を考慮したブロック分割手法が提案されている．本論文では，テスト不能故障を考慮したブロック分割手法を 3 通りの制約で実験をおこない，それぞれのテストパターン数やテスト生成時間，ゲート網羅故障検出率を示す．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: A gate-exhaustive fault model has been proposed to cover cell-internal defects in VLSI. The gate-exhaustive fault model has a proportional relationship between the number of gates and the number of faults. Thus, the numbers of gate-exhaustive faults and test patterns drastically increase for large circuits. To reduce the number of gate-exhaustive faults, a region-exhaustive fault model has been proposed. However, the large numbers of test patterns and the low fault coverage are problems. To resolve these problems, we proposed a block partitioning method that consider untestable gate-exhaustive faults. In this paper, we experimentally evaluate the block partitioning methods considering untestable faults with three different constraints, and show the number of test patterns, the test generation time, and the gate-exhaustive fault coverage for three methods.
• 書誌情報: DAシンポジウム2023論文集; 巻 2023, p. 187-192, 発行日 2023-08-23
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会