@inproceedings{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00227372,
 author = {南口, 和生 and 御堂, 義博 and 三浦, 典之 and 塩見, 準},
 book = {DAシンポジウム2023論文集},
 month = {Aug},
 note = {AES などの暗号回路はサイドチャネル攻撃によって秘密情報が解析されることがある．本発表では，電磁波を用いたサイドチャネル攻撃に対して，統計的に安全性を保証する暗号処理回数の電源電圧依存性モデルを提案する．暗号回路のサイドチャネル攻撃に対する耐性評価であるt検定を用いて，安全に暗号処理できる回数の上限と動作速度のトレードオフ関係をモデル化した．回路シミュレーションにおいて電磁波を解析した結果，提案モデルとよく一致した．また実際の AES暗号回路に対してモデルの評価を行った．},
 pages = {35--40},
 publisher = {情報処理学会},
 title = {暗号回路に対する電磁波解析攻撃に必要な波形取得回数の電源電圧依存性モデル},
 volume = {2023},
 year = {2023}
}