| Item type |
SIG Technical Reports(1) |
| 公開日 |
2023-05-04 |
| タイトル |
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タイトル |
マイクロサービスの障害影響範囲特定におけるテストログ活用可能性の検討 |
| タイトル |
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言語 |
en |
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タイトル |
Investigation of the Possibility of Utilizing Test Logs in Identifying the Scope of Microservice Failure Impact |
| 言語 |
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言語 |
jpn |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
ICM |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh |
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資源タイプ |
technical report |
| 著者所属 |
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株式会社日立製作所研究開発グループ |
| 著者所属 |
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株式会社日立製作所研究開発グループ |
| 著者所属(英) |
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en |
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Hitachi Ltd, Research & Development Group |
| 著者所属(英) |
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en |
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Hitachi Ltd, Research & Development Group |
| 著者名 |
Hu, Shizhen
田中, 晶
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| 著者名(英) |
Shizhen, Hu
Akira, Tanaka
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| 論文抄録 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
ニーズ変化への迅速な対応のため，システムを機能単位で分散化し開発・運用する形態 (マイクロサービス) へとシステムアーキテクチャが移行しつつある．ただし，システムの分散化に伴い，API が正常応答しない場合等，従来的なアプリ監視では障害原因・ビジネスへの影響範囲の特定が困難となっている．本研究では，稼働テスト時に生成したテストログと，分散トレーシングで生成したトレースデータを用い，各ユースケースのリクエスト特徴を分析することで，本番環境で障害が起きた際にビジネスへの影響範囲を特定する手法を提案する．本稿では，テストログを活用した影響範囲の提示手法について報告する． |
| 論文抄録(英) |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
In order to respond quickly to changing needs, system architecture is shifting to a form in which systems are distributed, developed, and operated in functional units (microservices). However, as systems become distributed, it has become difficult to identify the cause of failure and the extent of impact on business by conventional application monitoring. This study proposes a method to identify the scope of business impact when a failure occurs in the production environment by analyzing the request characteristics of each use case using test logs generated during operation testing and trace data generated by distributed tracing. This paper reports on the method for presenting the scope of impact using test logs. |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA12326962 |
| 書誌情報 |
研究報告インターネットと運用技術（IOT）
巻 2023-IOT-61,
号 25,
p. 1-5,
発行日 2023-05-04
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| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
2188-8787 |
| Notice |
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SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. |
| 出版者 |
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言語 |
ja |
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出版者 |
情報処理学会 |
IPSJ-IOT23061025.pdf (1.3 MB)
