| Item type |
SIG Technical Reports(1) |
| 公開日 |
2023-02-23 |
| タイトル |
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タイトル |
対応する局所領域の数を考慮した外観検査手法の検討 |
| タイトル |
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言語 |
en |
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タイトル |
Investigation of Appearance Inspection Method Considering the Number of Corresponding Local Patches |
| 言語 |
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言語 |
jpn |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh |
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資源タイプ |
technical report |
| 著者所属 |
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(地独)大阪産業技術研究所 |
| 著者所属 |
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(地独)大阪産業技術研究所 |
| 著者所属 |
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(地独)大阪産業技術研究所 |
| 著者所属(英) |
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en |
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Osaka Research Institute of Industrial Science and Technology |
| 著者所属(英) |
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en |
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Osaka Research Institute of Industrial Science and Technology |
| 著者所属(英) |
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en |
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Osaka Research Institute of Industrial Science and Technology |
| 著者名 |
北口, 勝久
西﨑, 陽平
齋藤, 守
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| 著者名(英) |
Katsuhisa, Kitaguchi
Yohei, Nishizaki
Mamoru, Saito
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| 論文抄録 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
ディープラーニングを利用した正常画像のみで学習する外観検査の研究が盛んに行われている．最近は傷や汚れといった構造的異常だけでなく，部品の数や組み合わせの間違いなどの論理的異常も取り入れたデータセットも公開され，このような異常への対応も求められている．本研究では構造的異常の SOTA 手法である PatchCore にパッチ数の整合性の考慮を追加することで論理的異常に対応させることを提案する．具体的にはテスト画像と良品画像の特徴量のヒストグラムを比較し，差異があれば異常とする．MVTec AD に論理的異常画像を追加して実験を行い提案手法の有効性を検証する． |
| 論文抄録(英) |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
There has been a great deal of research on appearance inspection using deep learning, which learns only from normal images. Recently, datasets incorporating not only structural anomalies such as scratches and stains, but also logical anomalies such as wrong number of parts and wrong combination of parts have been released, and there is a need to deal with such anomalies. In this study, we propose that PatchCore, a SOTA method for structural anomalies, can deal with logical anomalies by adding the consideration of consistency in the number of patches. Specifically, the histograms of the features of the test image and the good image are compared, and if there is a difference, it is considered as an anomaly. Experiments are conducted on a set of images with logical anomalies added to MVTec AD to verify the effectiveness of the proposed method. |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA11131797 |
| 書誌情報 |
研究報告コンピュータビジョンとイメージメディア（CVIM）
巻 2023-CVIM-233,
号 21,
p. 1-5,
発行日 2023-02-23
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| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
2188-8701 |
| Notice |
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SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. |
| 出版者 |
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言語 |
ja |
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出版者 |
情報処理学会 |
IPSJ-CVIM23233021.pdf (2.2 MB)
