FDSOIプロセスにおけるスタック構造を用いたフリップフロップのソフトエラー耐性の実測評価

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2022-11-04
• タイトル: FDSOIプロセスにおけるスタック構造を用いたフリップフロップのソフトエラー耐性の実測評価
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 京都工芸繊維大学電子システム工学専攻
• 著者所属: 京都工芸繊維大学電子システム工学専攻
• 著者所属: 京都工芸繊維大学電子システム工学専攻
• 著者所属: 京都工芸繊維大学電子システム工学専攻
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Electronics, Kyoto Institute of Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Electronics, Kyoto Institute of Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Electronics, Kyoto Institute of Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Electronics, Kyoto Institute of Technology
• 著者名: 杉谷, 昇太郎; 中島, 隆一; 古田, 潤; 小林, 和淑
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 集積回路の微細化に伴い，信頼性の低下が問題となっている．信頼性低下の一因として放射線起因の一時故障であるソフトエラーが挙げられる．ソフトエラーは，自動運転技術や医療機器といった人命に関わる機器においては致命的となるため，対策が必要である．FDSOI プロセスではスタック構造がソフトエラーに強靭であるとされている．先行研究では，一般的な D 型 FF に対してスタック構造を施した ALLSTACKEDFF は，重イオン照射時において特定の条件でエラーが発生していることが報告されている．本稿では ALLSTACKEDFF におけるエラー発生箇所を特定するために，構造を変えた FF に対して重イオン照射を行い，ソフトエラー耐性評価を行った．重イオン照射結果より，ALLSTACKEDFF においてソフトエラーは入力におけるトライステートインバータ部分で起こっていることを特定した．
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 研究報告システムとLSIの設計技術（SLDM）; 巻 2022-SLDM-199, 号 12, p. 1-3, 発行日 2022-11-04
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-8639
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会