@techreport{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00220005, author = {吉岡, 弘隆 and 早水, 悠登 and 合田, 和生 and 喜連川, 優 and Hirotaka, Yoshioka and Yuto, Hayamizu and Kazuo, Goda and Masaru, Kitsuregawa}, issue = {7}, month = {Sep}, note = {近年製品出荷された不揮発メモリ(Non Volatile Memory 以下 NVM)を対象とする性能マイクロベンチマーク(pmmeter と称す)を開発し予備試験を実施した.NVM は通常の揮発性メモリ(DRAM)と同様にバイト単位のアクセスが可能であるが揮発性メモリ(DRAM)と異なりデータ永続性を持つ.データ永続性を持たせるために明示的な flush 命令やクラッシュ一貫性を担保するための fence 命令(同期命令)などが必要となる.NVM 製品である Intel Optane DC Persistent Memory Module (以下 Intel Optane DCPMM) ではキャッシュの内容を DCPMM に永続化するための flush 命令が複数あり,更に一貫性を担保する fence 命令の有無によって,そのレイテンシーやスループットが異なる.またキャッシュを利用しない non temporal 命令もあり,それらの組合せたときの動作性能(レイテンシーおよびスループット)も DRAM とはことなっていて自明ではない.そこで本研究では Intel Optane DCPMM 向けにマイクロベンチマークを検討し,その予備試験を行った.}, title = {不揮発メモリを対象とする性能マイクロベンチマークpmmeterの検討と予備試験}, year = {2022} }