ゲート網羅故障のテスト生成高速化のためのブロック分割手法

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2022-07-20
• タイトル: ゲート網羅故障のテスト生成高速化のためのブロック分割手法
• タイトル / 言語: en
• タイトル: A Block Partitioning Method to Accelerate Test Generation for Gate- Exhaustive Faults
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: テスト高速化・効率化
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 日本大学大学院生産工学研究科
• 著者所属: 日本大学生産工学部
• 著者所属: 京都産業大学情報理工学部
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Industrial Technology Nihon University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): College of Industrial Technology Nihon University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Faculty of Information Science and Engineering Kyoto Sangyo University
• 著者名: 溝田, 桃菜; 細川, 利典; 吉村, 正義
• 著者名(英): Momona, Mizota; Toshinori, Hosokaawa; Masayoshi, Yoshimura
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: セル内の欠陥を網羅するゲート網羅故障モデルはゲート数と故障数が比例の関係にあるため，ゲート数が増大すると故障数やテストパターン数が増大する．それゆえ，テストパターン数を削減するために，動的テスト圧縮法の 1 つであるゲート網羅故障に対する多重目標故障テスト生成法が提案されている．しかしながら，ゲート網羅故障に対する多重目標故障テスト生成では，テスト生成時間が課題となっている．またテスト生成の対象となるゲート網羅故障数を削減するためにセル単位で故障を定義せずに，ブロック単位で故障を定義する領域網羅故障モデルが提案されている．領域網羅故障が定義されるブロックは，ゲート網羅故障数よりも定義される故障数が少なくなるように構成されている．しかしながら，領域網羅故障の故障検出率の低下やテスパターン数の増加が課題となっている．本論文では，故障検出率の低下を抑制しながら領域網羅故障数を削減するためのブロック分割手法を提案する，ISCAS89 ベンチマーク回路に対する実験結果は，従来のゲート網羅故障と比較して，平均でテスト生成時間を 37.94％ 削減し，故障数を 30.65％ 削減し，テストパターン数を 16.75％ 削減した．また，従来の領域網羅故障と比較して, 平均で故障検出率を 6.97％ 向上させたことを示す．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: In gate-exhaustive fault model which covers defects in cells, since the number of faults is proportion to that of gates, the numbers of faults and test patterns increase with the increasing in the number of gates. Therefore, for gate-exhaustive faults, a multiple target test generation method which is one of dynamic test compaction methods has been proposed to reduce the number of test patterns. However, the test generation time is problem. Also, region-exhaustive fault model which is defined in block units without defining faults in cell units has been proposed to reduce the number of faults for the test generation. Blocks where region-exhaustive faults are defined was configured such that the number of defined faults is smaller than that of gate-exhaustive faults. However, there are problems such as a decrease in fault coverage for region-exhaustive faults and an increase in the number of test patterns. In this paper, we propose a block partitioning method to reduce the number of region-exhaustive faults while maintaining fault coverage for gate-exhaustive faults. The experimental results for ISCAS89 benchmark circuits showed that the proposed block partitioning method reduced the test generation time by 37.94%, reduced the number of faults by 30.65%, reduced the number of test patterns by 16.75%, and increased the fault coverage for gate-exhaustive faults by 6.97% on average compared to the conventional block partitioning method.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AN10096105
• 書誌情報: 研究報告システム・アーキテクチャ（ARC）; 巻 2022-ARC-249, 号 3, p. 1-6, 発行日 2022-07-20
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-8574
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会