@techreport{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00218845,
 author = {田中, 裕太郎 and 上野, 嶺 and 草川, 恵太 and 伊東, 燦 and 高橋, 順子 and 本間, 尚文 and Yutaro, Tanaka and Rei, Ueno and Keita, Xagawa and Akira, Ito and Junko, Takahashi and Naofumi, Homma},
 issue = {1},
 month = {Jul},
 note = {本稿では，耐量子鍵カプセル化メカニズム (KEM) に対するサイドチャネル攻撃について述べる．耐量子 KEM では，IND–CCA 安全性を実現するため，鍵デカプセル化の際に再暗号化が実行される．提案する攻撃では，再暗号化で用いられる疑似ランダム関数 (PseudoRandom Function:  PRF) もしくは疑似ランダム生成器 (PseudoRandom Generator: PRG) に着目し，その動作時のサイドチャネル情報から平文判定オラクルを実現することで選択暗号文攻撃を可能とする．平文判定オラクルの実現に関して，従来は二クラス分類ニューラルネットワーク (NN) が用いられてきた．本稿では，多クラス分類 NN の利用およびそれを活用した選択暗号文攻撃を提案し，従来手法と比較して鍵回復に必要な波形数を最大 83% 削減可能であることを示す．},
 title = {耐量子鍵カプセル化メカニズムに対する多クラス分類ニューラルネットワークを用いたサイドチャネル攻撃の検討},
 year = {2022}
}