@techreport{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00218815,
 author = {近野, 真生 and 吉田, 直樹 and 坂本, 純一 and 林, 俊吾 and 松本, 勉 and Masaki, Chikano and Naoki, Yoshida and Junichi, Sakamoto and Shungo, Hayashi and Tsutomu, Matsumoto},
 issue = {10},
 month = {Jul},
 note = {フォールト攻撃は，デバイスに意図的にフォールト（障害）を注入して誤動作を引き起こし，それを観測して内部の秘密情報を解析しようと試みる攻撃方法である．精密なフォールト注入が可能であるレーザー照射を利用する攻撃は特に強力であり，それに対する対策技術の開発が求められている．本稿では，先行研究で提案されたフルディジタルのレーザー検知回路を含む FPGA  実装の暗号回路でシングルレーザー照射攻撃には耐えられるとされるものに対し，ダブルスポットレーザー照射によるセキュリティ評価を行った結果を報告する．, A fault injection attack is an attack method that intentionally injects faults into a device to cause it to malfunction, and then attempts to observe the malfunction and analyze the internal confidential information. Attacks using laser irradiation, which enables precise fault injection, are particularly powerful, and development of countermeasures against them is required. In this article, we report the results of security evaluation by double-spot laser irradiation against an FPGA-implemented cryptographic circuit including a full-digital laser detection circuit proposed in a previous study, which is said to withstand a single laser irradiation attack.},
 title = {レーザー検知機能付き暗号回路のダブルスポットレーザーによるセキュリティ評価},
 year = {2022}
}