@techreport{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00217292,
 author = {内藤, 裕暉 and 岸, 知二 and Hiroki, Naito and Tomoji, Kishi},
 issue = {6},
 month = {Mar},
 note = {近年，可変性を持つシステムが増えており，SPL (Software Product Line) 開発が重要視されている．従来のモデル検査手法の研究では，MTS や FTS を検証するツールとして SNIP などのファミリベースのモデル検査を行うことのできる特定のツールを用いた研究が多いが，汎用性に問題がある．一般的に広く用いられるモデル検査ツールで検証が行えるようになると有用性が増すが，製品群の製品をひとつひとつ検証しなければならず，複数製品の検証に対応していないという問題がある．本研究では可変性を持つシステムに対して，汎用的なモデル検査ツールを用いて，複数の製品を同時に検証できる手法を提案した．フィーチャの出現確率である FIP を用いて，バリアントの選択を確率的に行う遷移を FTS に付与することで，確率システムとして確率的モデル検査を行い，プロパティがどの程度の製品において成立するのか検証した．これにより SPL の検証を汎用的なモデル検査ツールで製品をひとつひとつ検証しなくてもモデル検査を行えるようになった．},
 title = {可変性を持つシステムの確率的モデル検査手法},
 year = {2022}
}