@techreport{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00217115,
 author = {田中, 知成 and 廖, 望 and 橋本, 昌宜 and 密山, 幸男},
 issue = {27},
 month = {Mar},
 note = {Field Programmable Gate Array (FPGA) において回路構成情報を格納する Cofiguration Random Access Memory (CRAM) は，Single Event Upset (SEU) の影響を受けやすいことが課題になっている．本論文では，SRAM 型 FPGA を用いた画像処理に基づく自動運転システムを対象に，CRAM のビットアップセットが自動運転システムに与える影響を評価することを目指す．従来の研究では，画像処理アプリケーションにおける Single Event Functional Interrupt (SEFI) は，FPGA の論理機能の故障としてのみ定義される．一方で，FPGA の論理機能の故障が自動運転システム全体に及ぼす影響についてまでは評価されていない．本研究では，自動運転システムにおける SEFI のうち，自動運転ロボットの決められた道路範囲からの脱線を引き起こす重大な SEFI を深刻な誤動作として分類することを目指す．評価実験として，提案する評価環境を用いてフォールトインジェクションと中性子照射実験と行った．フォールトインジェクションの結果では，Design Under Test (DUT) を構成するコンフィギュレーションビットのうち，30.6% がビット反転によって SEFI を引き起こす可能性があることがわかった．また，これらの SEFI のうち 33.0% は最終的に深刻な誤動作を引き起こした．中性子照射実験では，SEFI と深刻な誤動作の Cross Section (CS) の測定を行った．中性子照射実験で得た CS は，フォールトインジェクションから推測される CS と誤差範囲内で一致していることを確認した．このことから，提案する仮想環境を用いた評価手法の有用性を実証した．},
 title = {仮想環境を用いたSRAM型FPGAにおけるソフトエラー評価手法},
 year = {2022}
}