@techreport{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00214029,
 author = {門田, 和樹 and Leonidas, Kataselas and Ferenc, Fodor and Alkis, Hatzopoulos and 永田, 真 and Erik, Jan Marinissen and Kazuki, Monta and Leonidas, Kataselas and Ferenc, Fodor and Alkis, Hatzopoulos and Makoto, Nagata and Erik, Jan Marinissen},
 issue = {20},
 month = {Nov},
 note = {オンチップモニタ回路 (OCM) を用いる事により，電源レギュレータモジュール (µVRM) により区切られた電源ドメイン内のダイナミック電圧ドロップ波形を取得する事が出来る．本稿では OCM を用いて大規模集積回路 (VLSI) 内の電源ノイズ波形を取得し，電源ノイズ波形から電源ドメイン内の回路のスイッチング数の時間変動を 算出する．算出した推測スイッチング数とシミュレーションにより求めたスイッチング数に乖離がある事は (1) 評価 回路の不良，もしくは (2) テストプログラムの不良のいずれかである事を示唆する．本稿では OCM で取得した電圧ドロップ波形を用いたトグル診断手法を提案した．さらに，180 nm CMOS プロセスでテストチップを作成し，提案手法のデモンストレーションを行った．, On-chip monitor (OCM) circuits enable us to observe dynamic power-supply (PS) waveforms within power domains individually partitioned by dedicated micro voltage regulator modules (μVRMs). In this paper, OCM is used to diagnose VLSI circuits with a modular power management and the combinational logics are precisely captured in the OCM voltage waveforms. A mismatch between simulation and measurement warns us of either (1) malfunction in the hardware module, or (2) defects in the test program. In this paper, we demonstrate an IR-drop-based toggle diagnosis technique using OCM for a prototype chip in 180 nm CMOS technology.},
 title = {オンチップモニタを用いたダイナミック電圧ドロップ診断},
 year = {2021}
}