WEKO3
アイテム
高位合成における最適化のサイドチャネル攻撃耐性への影響
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/213786
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/21378628940930-9962-48a3-920a-c8c8a48ab18b
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-EMB21058007.pdf (438.5 kB)
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Copyright (c) 2021 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||||||||||
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| 公開日 | 2021-11-11 | |||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||
| タイトル | 高位合成における最適化のサイドチャネル攻撃耐性への影響 | |||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||
| 主題 | セキュリティ・仮想化 | |||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||||||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||||
| 立命館大学大学院理工学研究科 | ||||||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||||
| 立命館大学大学院理工学研究科 | ||||||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||||
| 立命館大学大学院理工学研究科／日本学術振興会 | ||||||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||||
| 立命館大学大学院理工学研究科 | ||||||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||||
| 立命館大学大学院理工学研究科 | ||||||||||||||||
| 著者名 |
水野, 拓己
× 水野, 拓己
× 張, 啓迪
× 西川, 広記
× 孔, 祥博
× 冨山, 宏之
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| 論文抄録 | ||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||
| 内容記述 | 多くの IoT デバイスはサイドチャネル攻撃の危険にさらされている．サイドチャネル攻撃の中でも，ターゲットとなるデバイスの電力を解析することで回路の秘密鍵を特定する電力解析攻撃が有名である．本論文では，暗号回路における性能と，サイドチャネル攻撃耐性との相関を調査する．C 言語で記述された AES 回路を高位合成した後，電力解析し，T検 定によってサイドチャネル攻撃耐性を評価する． | |||||||||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||
| 収録物識別子 | AA12149313 | |||||||||||||||
| 書誌情報 |
研究報告組込みシステム（EMB） 巻 2021-EMB-58, 号 7, p. 1-2, 発行日 2021-11-11 |
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| ISSN | ||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||||||
| 収録物識別子 | 2188-868X | |||||||||||||||
| Notice | ||||||||||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||||||||||
