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  1. 研究報告
  2. システムとLSIの設計技術(SLDM)
  3. 2021
  4. 2021-SLDM-195

ファジングと高位合成を用いた近似コンピューティング回路のタイミング検証手法

https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/213255
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/213255
855b1f27-b38d-49ba-99b0-a7461adee2be
名前 / ファイル ライセンス アクション
IPSJ-SLDM21195008.pdf IPSJ-SLDM21195008.pdf (808.3 kB)
Copyright (c) 2021 by the Information Processing Society of Japan
オープンアクセス
Item type SIG Technical Reports(1)
公開日 2021-10-08
タイトル
タイトル ファジングと高位合成を用いた近似コンピューティング回路のタイミング検証手法
言語
言語 jpn
キーワード
主題Scheme Other
主題 ポスターセッション
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
資源タイプ technical report
著者所属
名古屋大学情報学部コンピュータ科学科
著者所属
名古屋大学大学院情報学研究科
著者所属
名古屋大学大学院情報学研究科
著者名 熊谷, 僚太

× 熊谷, 僚太

熊谷, 僚太

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増田, 豊

× 増田, 豊

増田, 豊

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石原, 亨

× 石原, 亨

石原, 亨

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論文抄録
内容記述タイプ Other
内容記述 本研究では,近似コンピューティング (Approximate Computing; AC) 回路のタイミング検証手法を提案する.AC 回路のタイミング検証では,「どのようなテストパターンが,計算結果 (例.画像処理の画質) を許容できない範囲まで低下させるか」調査する.本研究では,変異ベースファジング (Coverage-based Greybox Fuzzing; CGF),高位合成,及び Fault Injection (FI) を利用した AC 回路のタイミング検証手法を提案する.CGF によりテストパターンを生成することで,AC 回路の計算品質を低下させるパターンを効率的に発見する狙いがある.提案手法は,既存の CGF ツールの移植性を考慮して,SystemC などの高水準言語で記述されたハードウェアを対象とし,上記のハードウェアに対して高位合成を利用してタイミング特性を抽出する.タイミングクリティカルな Flip-Flop (FF) に FI を行う実装を追加したのち,ファジングを実行することで,「遅延故障の発生条件を考慮しつつ,どのようなテストパターンが計算結果の品質を低下させるか」自動探索する.
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11451459
書誌情報 研究報告システムとLSIの設計技術(SLDM)

巻 2021-SLDM-195, 号 8, p. 1-4, 発行日 2021-10-08
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 2188-8639
Notice
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
出版者
言語 ja
出版者 情報処理学会
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Ver.1 2025-01-19 17:13:22.982471
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