コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2021-03-18
• タイトル: コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法
• タイトル / 言語: en
• タイトル: A Controller Augmentation Method to Improve Transition Fault Coverage
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: 高信頼化技術
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 日本大学大学院生産工学研究科
• 著者所属: 日本大学生産工学部
• 著者所属: 日本大学生産工学部
• 著者所属: 京都産業大学情報理工学部
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Industrial Technology, Nihon University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): College of Industrial Technology, Nihon University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): College of Industrial Technology, Nihon University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Faculty of Information Science and Engineering, Kyoto Sangyo University,
• 著者名: 飯塚, 恭平; 細川, 利典; 山崎, 紘史; 吉村, 正義
• 著者名(英): Kyohei, Iizuka; Toshirori, Hosokawa; Hiroshi, Yamazaki; Masayoshi, Yoshimura
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 近年，VLSI の微細化，高速化，電源電圧の低下に伴い，遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっている．しかしながら，遷移故障のテスト生成では，一般に VLSI の回路構造と機能に起因する多くのテスト不能故障が同定される．目標故障がテスト不能である場合，その場所をカバーするテストが欠落する．その結果，欠陥が検出可能であっても，テスト集合はその場所周辺の欠陥を検出しない可能性がある．それゆえ，遷移故障モデルにおける故障検出率向上のためのテスト容易化設計が重要である．コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当ての指標として，QDT 値が提案されている．本論文は，拡張 QDT 値を用いて状態レジスタ間の活性化可能な経路数を増大させるために，コントローラに追加状態遷移を挿入する手法を提案する．MCNC’91 ベンチマーク回路に対する実験結果は，提案手法の適用によって遷移故障検出率が向上したことを示す．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: With shrinking feature sizes, growing clock frequencies, and decreasing power supply voltage, modern VLSIs are increasingly suffering from the impact of timing related defects. Therefore, transition fault testing is necessary. However, test generation for transition faults generally identifies many untestable faults due to the circuit structures and functions of VLSIs. When a target fault is untestable, a test that would have covered its site is missing from the test set. As a result, the test set might not detect defects around this site, even if the defects are detectable. Therefore, design-for-testability to improve transition fault coverage is very important. QDT value were proposed as testability measure of transition fault testing for state assignments of controllers. This paper proposes a method to insert additional state transitions into controllers using extended QDT value to increase the number of sensitizable paths between state registers. Experimental results for the MCNC'91 benchmark circuits show that transition fault coverage for controllers was improved by applying our proposed method.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AN10096105
• 書誌情報: 研究報告システム・アーキテクチャ（ARC）; 巻 2021-ARC-244, 号 33, p. 1-6, 発行日 2021-03-18
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-8574
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会