@techreport{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00210460,
 author = {森田, 清隆 and 桐村, 昌行 and 水口, 武尚},
 issue = {11},
 month = {Mar},
 note = {組込み製品の性能を阻害する要因として，H/W リソースの枯渇による S/W 処理の遅延が挙げられる．この解決に H/W リソース枯渇の要因となる処理の分析が必要となるが，分析に必要なデータの測定は，その処理自体の処理負荷による測定結果への影響や測定したデータの記録に伴う記憶容量の圧迫が起こり得る課題がある．また，測定すべきデータの判断や測定したデータの分析に労力が必要であり，特に H/W リソース枯渇の要因をアプリケーションの関数やソースコード箇所まで分析する場合の労力は大きい．これに対して測定結果への影響や記憶容量消費を抑えた上で，H/W リソース（CPU，メモリ，ストレージ I/O）の枯渇を検知し，その枯渇要因となるアプリケーションの関数およびソースコード箇所を自動的に分析する手法を提案する．提案手法は，H/W リソースが枯渇する範囲における H/W リソース使用処理に限定して測定を行うことで，測定処理負荷による測定結果への影響や測定データによる記憶容量消費を抑える．また，H/W リソースが枯渇する範囲において対象 H/W リソースを使用する処理をアプリケーションの関数およびソースコード箇所まで分析し，H/W リソースの枯渇要因として示すことができる．評価において，提案手法により CPU，メモリ，ストレージ I/O に関して H/W リソース枯渇を生じさせるアプリケーションの関数およびソースコード箇所を，H/W リソースの枯渇要因として提示できることを確認した．},
 title = {H/Wリソース枯渇要因分析自動化手法の提案},
 year = {2021}
}