データ量に基づく可検査性尺度を用いたテスト容易化機能的時間展開モデル生成法

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2020-07-23
• タイトル: データ量に基づく可検査性尺度を用いたテスト容易化機能的時間展開モデル生成法
• タイトル / 言語: en
• タイトル: A Generation Method of Easily Testable Functional Time Expansion Models Using Testability Measure Based on Data Amount
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: 回路のテスト・故障診断
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 日本大学大学院生産工学研究科
• 著者所属: 日本大学生産工学部
• 著者所属: 日本大学大学院生産工学研究科
• 著者所属: 大阪学院大学情報学部
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Industrial Technology Nihon University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): College of Industrial Technology Nihon University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Industrial Technology Nihon University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Faculty of Informatics Osaka Gakuin University
• 著者名: 中村, 健太; 細川, 利典; 石山, 悠太; 藤原, 秀雄
• 著者名(英): Kenta, Nakamura; Toshinori, Hosokawa; Yuta, Ishiyama; Hideo, Fujiwara
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: データパスを対象とする効率的なテスト生成手法として，テスト容易化機能的時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている．テスト容易化機能的時間展開モデルは一つのハードウェア要素に対し，複数生成できる．複数ある時間展開モデルからテスト生成に使用するモデルの選択は，時間展開数，再収斂数，定数制御演算器が影響を与えるハードウェア数を基に考えることができるが，実際にテスト対象のハードウェア要素の入出力に設定・観測可能なテストパターン・期待値のデータ量が定量化できない．本論文では，テスト容易化機能的時間展開モデルの生成アルゴリズムと記号シミュレーション結果に基づくデータ量に基づくテスト容易化機能的時間展開モデルの可検査性尺度を提案する．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: A test generation method using easily testable functional time expansion models has been proposed as efficient test generation methods for data paths. Several easily testable functional time expansion models can be generated for one hardware element in data paths. The models used for test generation are selected from the candidates based on the number of time expansions, the number of re-convergences, and the number of hardware elements affected by operational units with constants. It is not possible to quantify the amount of data that can be set and observed at the input and output of hardware elements by test sequences. In this paper, we propose a generation method of easily testable functional time expansion models, and also propose a testability measure for easily testable functional time expansion models based on data amount using symbolic simulation.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AN10096105
• 書誌情報: 研究報告システム・アーキテクチャ（ARC）; 巻 2020-ARC-241, 号 19, p. 1-6, 発行日 2020-07-23
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-8574
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会