@techreport{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00200422,
 author = {森, 美樹子 and 久保田, 真一郎 and 杉谷, 賢一 and 中野, 裕司},
 issue = {2},
 month = {Nov},
 note = {週ごとに学習活動の成果となる出席や確認テストのデータを使い，授業を不合格になりそうな学生を早期に見つけ出すことができれば，早期に学習指導を行うことで，不合格者を減らすことができると考えられる．本報告では，全学的に行われる情報基礎科目を対象に，週ごとの出席状況と確認テストの結果を入力値として，データを整理した上で linearSVC による不合格者の予測とその精度を確認した．総合評価点と確認テストが関係することから，総合評価点を目的変数とし，出席および確認テストを説明変数とする重回帰分析を行い，LinearSVC の結果と比較した．比較した結果，LinearSVC による予測の正答率は早い授業回で，重回帰分析の結果より微小に高い精度となっていた．また，不可となる人を不可と判定できた割合を示す再現率は，早い授業回から重回帰分析が高い精度を示していた．さらに検討を進め，精度の向上を目指す予定である．},
 title = {情報基礎科目における毎週の出席およびテスト結果を用いた履修初期での合否予測手法の比較検討},
 year = {2019}
}