@inproceedings{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00198694,
 author = {猪岡, 柚香 and 橘, 昌良 and Yuka, Inooka and Masayoshi, Tachibana},
 book = {DAシンポジウム2019論文集},
 month = {Aug},
 note = {本論文ではBGR（Band-Gap Reference）回路に対するMOSFETのオープンやショートなどの致命的な故障を検出するBIST手法の概要と実測による評価について述べる．提案した0.18μmCMOSテクノロジで設計したオンチップBIST手法は，外部テスト信号を使用し，カタストロフィック故障の検出を行う．論理素子からなるテスト応答解析器でBGR回路内から3つのテストポイントを取り，期待される正常値と比較し，得られたテスト結果をデジタル信号として出力する．シミュレーションでは，8.8%の低い面積オーバヘッドで92.4%の高い故障検出率が得られた．, This paper presents a Built-In Self-Test (BIST) scheme for detecting catastrophic faults of a MOSFET in the bandgap reference circuit and evaluation of this scheme. The proposed on-chip BIST scheme in 0.18-μm CMOS technology has offered catastrophic faults detection with external test signal. Output response analyzer composed of logical components compares expected voltages and observed voltages on three test-points in bandgap reference which is improved for test operation outputs the test result as a digital signal. The demonstrations show that fault coverage and area overhead are 92.4% and 8.8%, respectively.},
 pages = {15--20},
 publisher = {情報処理学会},
 title = {バンドギャップ基準電源回路を対象としたBIST手法の評価},
 volume = {2019},
 year = {2019}
}