WEKO3
アイテム
ToFカメラを用いた散乱媒体下での物体領域と奥行きの同時推定
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/191852
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/191852b2264ed3-d801-4305-9150-33f41f698dd5
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Copyright (c) 2018 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||||||
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| 公開日 | 2018-10-31 | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | ToFカメラを用いた散乱媒体下での物体領域と奥行きの同時推定 | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | テーマセッション | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||
| 京都大学大学院情報学研究科 | ||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||
| 京都大学学術情報メディアセンター | ||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||
| 京都大学学術情報メディアセンター | ||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||
| en | ||||||||||||
| Graduate School of Informatics, Kyoto University | ||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||
| en | ||||||||||||
| ACCMS, Kyoto University | ||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||
| en | ||||||||||||
| ACCMS, Kyoto University | ||||||||||||
| 著者名 |
藤村, 友貴
× 藤村, 友貴
× 薗頭, 元春
× 飯山, 将晃
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| 論文抄録 | ||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||
| 内容記述 | 本研究では霧や煙が充満した環境 (散乱媒体) 下で Time - of - Flight (ToF) カメラを用い,観測した画像中の物体領域とその奥行きを同時に推定する手法を提案する.ToF カメラはシーンに光を照射し物体表面で反射して受光した光から,物体までの奥行きを計測することができる.しかし,散乱媒体下では物体表面で直接反射した光のほかに散乱光が観測されてしまうため,奥行きの計測精度が低下してしまう.これに対し,観測される散乱成分はカメラから比較的短い距離で飽和し,加えて十分離れた物体を観測した場合,散乱媒体下での減衰により物体表面での反射成分は無視することができる.したがって,ある程度離れていれば散乱成分のみが観測された領域が存在し,それを用いて物体領域における散乱成分を推定することができる.本研究では,これらの領域と散乱成分を iteratively reweighted least squares (IRLS) の枠組みで同時に推定することにより,シーン中の物体の奥行きを復元する.人工的に霧を発生させた環境下で Kinect v2 で撮影を行い,提案手法を適用することで物体領域と奥行きが推定できることを示す. | |||||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||
| 収録物識別子 | AN10100541 | |||||||||||
| 書誌情報 |
研究報告コンピュータグラフィックスとビジュアル情報学(CG) 巻 2018-CG-172, 号 16, p. 1-8, 発行日 2018-10-31 |
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| ISSN | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||
| 収録物識別子 | 2188-8949 | |||||||||||
| Notice | ||||||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||||||