@inproceedings{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00190927,
 author = {松田, 航平 and 藤井, 達哉 and 庄司, 奈津 and 菅原, 健 and 崎山, 一男 and 林, 優一 and 永田, 真 and 三浦, 典之 and Kohei, Matsuda and Tatsuya, Fujii and Natsu, Shoji and Takeshi, Sugawara and Kazuo, Sakiyama and Yu-ichi, Hayashi and Makoto, Nagata and Noriyuki, Miura},
 book = {DAシンポジウム2018論文集},
 month = {Aug},
 note = {本稿では，レーザー故障注入攻撃対策を備えた暗号 IC の設計手法を提案する．シリコン基板へのレーザー照射に伴い，基板内部において異常な過渡電流が発生することが知られている．この過渡電流を検知するための小面積基板電流センサを分散配置した暗号コア回路の設計手法について提案を行う．また，攻撃検知後の対策手法として，暗号コアへの電源供給路に挿入しコアへの電源供給路を切り替える電源瞬断回路によって，内部データ消去を行う手法を提案する．本稿では，提案手法の有効性を確認するため，0.18 μm CMOS プロセスにおいてテストチップを試作し，無対策暗号コアと比較し+28% の面積オーバヘッドでレーザー故障注入攻撃を無効化可能であることを確認した．, This paper proposes a design methodology of compact countermeasure against Laser Fault Injection (LFI) attack on cryptographic processors. A compact bulk-current sensor senses abnormal transient bulk current caused by laser irradiation on a silicon substrate. The single sensor size is only 286 F2/Cell and it is distributed across the entire cryptographic core. After attack detection, a flush code eraser switches the core supply path to quickly erase internal data. A test chip mounted 128-bit Advanced Encryption Standard (AES) was designed and fabricated in 0:18 μm standard CMOS. A protected AES processor can disable LFI attack with only +28% layout area penalty compared with an unprotected core.},
 pages = {220--225},
 publisher = {情報処理学会},
 title = {レーザー故障注入攻撃対策を備えた暗号ICの設計手法},
 volume = {2018},
 year = {2018}
}