レーザー故障注入攻撃対策を備えた暗号ICの設計手法

• Item type: Symposium(1)
• 公開日: 2018-08-22
• タイトル: レーザー故障注入攻撃対策を備えた暗号ICの設計手法
• タイトル / 言語: en
• タイトル: A Design Methodology of Secure Cryptographic Processor against Laser Fault Injection Attack
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: 特別セッション，ハードウェアセキュリティ
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
• 資源タイプ: conference paper
• 著者所属: 神戸大学
• 著者所属: 電気通信大学
• 著者所属: 電気通信大学
• 著者所属: 電気通信大学
• 著者所属: 電気通信大学
• 著者所属: 奈良先端科学技術大学院大学
• 著者所属: 神戸大学
• 著者所属: 神戸大学
• 著者名: 松田, 航平; 藤井, 達哉; 庄司, 奈津; 菅原, 健; 崎山, 一男; 林, 優一; 永田, 真; 三浦, 典之
• 著者名(英): Kohei, Matsuda; Tatsuya, Fujii; Natsu, Shoji; Takeshi, Sugawara; Kazuo, Sakiyama; Yu-ichi, Hayashi; Makoto, Nagata; Noriyuki, Miura
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 本稿では，レーザー故障注入攻撃対策を備えた暗号 IC の設計手法を提案する．シリコン基板へのレーザー照射に伴い，基板内部において異常な過渡電流が発生することが知られている．この過渡電流を検知するための小面積基板電流センサを分散配置した暗号コア回路の設計手法について提案を行う．また，攻撃検知後の対策手法として，暗号コアへの電源供給路に挿入しコアへの電源供給路を切り替える電源瞬断回路によって，内部データ消去を行う手法を提案する．本稿では，提案手法の有効性を確認するため，0.18 μm CMOS プロセスにおいてテストチップを試作し，無対策暗号コアと比較し+28% の面積オーバヘッドでレーザー故障注入攻撃を無効化可能であることを確認した．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: This paper proposes a design methodology of compact countermeasure against Laser Fault Injection (LFI) attack on cryptographic processors. A compact bulk-current sensor senses abnormal transient bulk current caused by laser irradiation on a silicon substrate. The single sensor size is only 286 F2/Cell and it is distributed across the entire cryptographic core. After attack detection, a flush code eraser switches the core supply path to quickly erase internal data. A test chip mounted 128-bit Advanced Encryption Standard (AES) was designed and fabricated in 0:18 μm standard CMOS. A protected AES processor can disable LFI attack with only +28% layout area penalty compared with an unprotected core.
• 書誌情報: DAシンポジウム2018論文集; 巻 2018, p. 220-225, 発行日 2018-08-22
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会