機能安全要求のためのテスト容易化設計法

• Item type: Symposium(1)
• 公開日: 2018-08-22
• タイトル: 機能安全要求のためのテスト容易化設計法
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Design for Testability Considering Functional Safety Requirement
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: 特別セッション，ディペンダブルコンピューティング
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
• 資源タイプ: conference paper
• 著者所属: 愛媛大学
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Ehime Univ.
• 著者名: 高橋, 寛
• 著者名(英): Hiroshi, Takahashi
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 先進自動運転の実現のためには車載コンピュータの機能安全を保証するテストが必要であるが，そのテストには多くの制約がある．本稿では，まず，組込み自己テストに基づくパワーオンセルフテスト （POST） において，機能安全要求を考慮して実行する際の課題を整理する．次に，故障検出強化フリップフロップによる中間観測を導入したマルチサイクルテスト法に関して説明する [1 - 4]．ここでは，故障検出強化フリップフロップの構成および故障検出強化フリップフロップに置き換えるフリップフロップの選択法を述べる．最後に，提案した手法をベンチマーク回路に適用した評価実験結果を述べる．評価実験結果から短いテスト時間で機能安全要求を満たしたテストを実行できることを明らかにする．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: For testing an automotive MCU, the testing is required to meet many constraints in terms of the specified fault coverage, test application time and power consumption. Power-On-Self-Test (POST) is required to meet those constraints in terms of the specified fault coverage, test application time and power consumption. In this paper, we introduce a DFT method for strengthening the fault detection capability of the multi-cycle testing to enhance the effect of test pattern reduction achieved by multi-cycle testing for the POST [1-4]. In addition, we propose the techniques including the Fault-Detection-Strengthened FF (FDS_FF) design and the method for selecting the insertion positions of the FDS_FFs. The experimental results confirm that the proposed DFT method can significantly reduce the number of test patterns for the POST.
• 書誌情報: DAシンポジウム2018論文集; 巻 2018, p. 107-110, 発行日 2018-08-22
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会