メモリアクセスパターン依存故障の注入のためのQEMUベース故障注入器

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2018-02-21
• タイトル: メモリアクセスパターン依存故障の注入のためのQEMUベース故障注入器
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: メモリ
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 東京工業大学／産総研・東工大実社会ビッグデータ活用オープンイノベーションラボラトリ
• 著者所属: 東京工業大学
• 著者所属: 東京工業大学
• 著者所属: 東京工業大学／産総研・東工大実社会ビッグデータ活用オープンイノベーションラボラトリ
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Tokyo Institute of Technology / AIST-TokyoTech Real World Big-Data Computation Open Innovation Laboratory (RWBC- OIL), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Tokyo Institute of Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Tokyo Institute of Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Tokyo Institute of Technology / AIST-TokyoTech Real World Big-Data Computation Open Innovation Laboratory (RWBC- OIL), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)
• 著者名: 小林, 佑矢; 實本, 英之; 野村, 哲弘; 松岡, 聡
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 近年，大規模計算機システムでの故障の増加が問題になっている．様々な耐故障技術が開発されたが，オーバーヘッドと耐故障性の間にトレードオフがあり，適切な手法の選択が難しい．耐故障技術の評価には故障注入が用いられるが，既存の故障注入器ではハードウェア特有の故障を再現し，アプリケーションレベルの詳細な解析ができない．我々は，ハードウェアに特有の故障を再現し，アプリケーションレベルの解析を容易に行える故障注入プラットフォームの提供を目的とする．本研究では，故障の主な発生源の一つである DRAM を対象にして，メモリアクセスパターン依存故障をメモリ I / O フックにより注入した上で，耐故障性テスト対象のプロセスのメモリマップ情報を取得できる QEMU ベース故障注入器 MH - QEMU を作成した．評価では，MH - QEMU の故障注入機能使用時には，テスト対象アプリケーションの実行時間が最良の場合でも 77 倍になることを確認した．中でも，メモリインテンシブであったり，ノード間通信が少ないアプリケーションほどオーバーヘッドが大きいことを確認した．また，MH - QEMU で NAS Parallel Benchmark の CG カーネルの耐故障性評価を行い，Row - Hammer 発生時に Silent Data Corruption につながりやすいデータ領域を特定した．
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AN10463942
• 書誌情報: 研究報告ハイパフォーマンスコンピューティング（HPC）; 巻 2018-HPC-163, 号 8, p. 1-10, 発行日 2018-02-21
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-8841
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会