電源電圧としきい値電圧の同時最適化が集積回路の消費エネルギーに与える影響の解析

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2015-01-22
• タイトル: 電源電圧としきい値電圧の同時最適化が集積回路の消費エネルギーに与える影響の解析
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Analyzing the Impacts of Simultaneous Supply and Threshold Voltage Tuning on Energy Dissipation in VLSI Circuits
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: 製造・性能考慮手法
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 京都大学
• 著者所属: 京都大学
• 著者所属: 京都大学
• 著者所属: 京都大学
• 著者所属: 京都大学
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Kyoto University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Kyoto University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Kyoto University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Kyoto University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Kyoto University
• 著者名: 竹下, 俊宏; 西澤, 真一; IslamA.K.M, Mahfuzul; 石原, 亨; 小野寺, 秀俊
• 著者名(英): Toshihiro, Takeshita; Shinichi, Nishizawa; A.K.M., Mahfuzul ISLAM; Tohru, Ishihara; Hidetoshi, Onodera
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: トランジスタの電源電圧としきい値電圧をアプリケーションやチップの動作状況に応じて適切に設定することにより，集積回路の消費エネルギーを大幅に削減できることが過去の研究で報告されている．しかし，チップのエネルギー効率を維持したまま必要とする電源電圧としきい値電圧の種類を削減するための方策や，より少ない種類の電源電圧としきい値電圧を用いて効果的にチップのエネルギー消費を削減するための指針を示した研究は前例が少ない．本稿では，より少ない種類の電源電圧としきい値電圧を用いてチップのエネルギー消費を効果的に削減する上で鍵となるいくつかの興味深い性質を明かにする．また，上記性質の根拠を解析的に説明するとともに，商用 28nm プロセスを使った回路シミュレーションにより検証する．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: Simultaneous supply and threshold voltage tuning has a strong impact on the energy reduction of LSI circuits. Therefore, techniques for optimizing the supply and threshold voltages simultaneously under a specific delay constraint of LSI circuits are widely investigated over the past 15 years. However, only a few previous work investigate techniques for effectively reducing the energy consumption of circuits with a small number of different supply and threshold voltages. In this paper, we present several interesting properties which are very useful for reducing the energy consumption of circuits with a small number of different supply and threshold voltages. Those properties are numerically explained using analytical delay and energy consumption models. Through circuit simulation using a commercial 28nm process technology model, we demonstrate that the properties presented in this paper hold for actual LSI circuits.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 研究報告システムとLSIの設計技術（SLDM）; 巻 2015-SLDM-169, 号 20, p. 1-6, 発行日 2015-01-22
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-8639
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会