製造過程でのトロイ回路混入を検知する設計手法

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2017-10-30
• タイトル: 製造過程でのトロイ回路混入を検知する設計手法
• タイトル / 言語: en
• タイトル: A Detection Method for Trojan Circuit inserted in Manufacturing Process
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: ハードウェアトロイ
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 京都産業大学大学院先端情報学研究科
• 著者所属: 京都産業大学コンピュータ理工学部
• 著者所属: 京都産業大学コンピュータ理工学部
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Division of Frontier Infomatis, Kyoto Sangyo University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Faculty of Computer Science, Kyoto Sangyo University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Faculty of Computer Science, Kyoto Sangyo University
• 著者名: 奥田, 良宣; 吉村, 正義; 大山, 浩平
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 大規模集積回路 (LSI) は多くの社会情報基盤システムの中で用いられており，LSI の信頼性は社会情報基盤の信頼性に大きく影響を与える．LSI の信頼性に関する課題の一つとして，攻撃者による LSI の設計および製造工程への攻撃がある．攻撃の一つとして，ある一部分だけ仕様と異なるトロイ回路に変更する攻撃がある．この攻撃に対して，製造されたチップを高精度に測定することで，トロイ回路を検出方法が多数提案されている．しかし，これらの検出手法は測定結果に基づくため，原理的に検出漏れを防ぐことが困難であり，製造されたチップにトロイ回路を含まないことを保証できない．本論文では，信頼できる設計データを作成した後のマスク設計や製造工程において，混入されたトロイ回路の検出を保障する手法を提案する．LSI の発注者が保持する真正の設計データと製造されたチップのそれぞれの振る舞いを網羅的に比較することによって，真正なチップかトロイ回路を含むチップかの判別を行う．FF をスキャン化することで LSI 内部を組み合わせ回路化し，さらに検査用回路を追加することで組み合わせ回路を論理的に分割し，分割された回路の入力数を一定数以下に削減する設計を行う．分割された回路ごとにすべての入力パタンを印加し，分割された回路ごとに応答を観測し，信頼できる設計データに基づく結果と観測した結果とを比較することで，LSI の設計データとチップとの等価性性検証を行い，チップにトロイ回路が含まれていないことを保障する．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: Large-scale integrated circuits (LSIs) are used in many social information infrastructure systems. The reliability of LSIs greatly affects the reliability of the social information infrastructure. One of the problems for the reliability of LSIs is an attack on LSI design processes and manufacturing processes. As one of the attacks, there is an attack that changes original circuits to a Trojan circuits different from the specification of the LSI. Many methods for detecting Trojan circuits have been proposed by highly accurately measuring the manufactured chip. Since these detection methods are based on measurement results, it is difficult to prevent detection failure, and it is not possible to guarantee that the manufactured chip does not contain any Trojan circuit. In this paper, we propose a method to guarantee detection of Trojan circuits in mask design and manufacturing process. Based on comprehensively comparing the correct design data of an LSI and the behavior of the manufactured chip, it is determined whether the manufactured chip is the correct chip or a chip with trojan circuits. By using scan design, sequential circuits in LSI are converted into combinational circuits. Furthermore, the combinational circuit is logically divided, and the number of inputs of the divided circuits is reduced to a given number N or less. All patterns are applied to each divided circuit and observed the response of each divided circuit. By comparing the observed results and the results based on the correct design data, we try to verify the equivalence of correct design data and manufactured chips. This ensures that the chip does not contain any Trojan circuit.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA12149313
• 書誌情報: 研究報告組込みシステム（EMB）; 巻 2017-EMB-46, 号 28, p. 1-6, 発行日 2017-10-30
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-868X
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会