| Item type |
SIG Technical Reports(1) |
| 公開日 |
2017-10-30 |
| タイトル |
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タイトル |
スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について |
| タイトル |
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言語 |
en |
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タイトル |
Flip-Flop Selection for Multi-Cycle Test with Partial Observation in Scan-Based Logic BIST |
| 言語 |
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言語 |
jpn |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
テスト生成およびテスト容易化設計 |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh |
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資源タイプ |
technical report |
| 著者所属 |
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九州工業大学 |
| 著者所属 |
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九州工業大学 |
| 著者所属 |
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愛媛大学 |
| 著者所属 |
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九州工業大学 |
| 著者所属 |
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九州工業大学 |
| 著者所属(英) |
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en |
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Kyushu Institute of Technology |
| 著者所属(英) |
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en |
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Kyushu Institute of Technology |
| 著者所属(英) |
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en |
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Ehime Universities |
| 著者所属(英) |
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en |
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Kyushu Institute of Technology |
| 著者所属(英) |
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en |
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Kyushu Institute of Technology |
| 著者名 |
大島, 繁之
加藤, 隆明
王, 森レイ
佐藤, 康夫
梶原, 誠司
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| 著者名(英) |
Shigeyuki, Oshima
Takaaki, Kato
Senling, Wang
Yasuo, Sato
Seiji, Kajihara
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| 論文抄録 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
論理 BIST における故障検出率向上のために，マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ (FF) 値の中間観測手法が提案されている．しかし既存手法では，中間観測する FF 数，すなわち中間観測による面積オーバヘッドと故障検出率とはトレードオフの関係にある．本研究では，テスト対象回路の回路接続情報を解析することで，故障検出率向上及び回路面積増大を抑制する中間観測 FF 選出手法を提案する．評価実験により，面積オーバヘッドは既存手法から 87.5% 削減が可能であることを確認できた． |
| 論文抄録(英) |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
A logic BIST scheme using multi-cycle test with partial observation has been proposed. In the scheme, the selection of flip-flops for partial observation plays an important role for improving the fault coverage and reducing the area overhead. This paper proposes a selection method of flip-flops for partial observation that can maximize the fault coverage under the limitation of the number of flip-flops. Experimental results show that the proposed method can obtain higher fault coverage than the existing flip-flop selection method and results in less area overhead. |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA11451459 |
| 書誌情報 |
研究報告システムとLSIの設計技術（SLDM）
巻 2017-SLDM-181,
号 16,
p. 1-6,
発行日 2017-10-30
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| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
2188-8639 |
| Notice |
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SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. |
| 出版者 |
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言語 |
ja |
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出版者 |
情報処理学会 |
IPSJ-SLDM17181016.pdf (741.1 kB)
