@inproceedings{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00183271,
 author = {於久, 太祐 and 多和田, 雅師 and 柳澤, 政生 and 戸川, 望},
 book = {DAシンポジウム2017論文集},
 month = {Aug},
 note = {小型デバイスの普及により，様々なデバイスで機密情報を扱うことが多くなると考えられる．機密情報を扱うには暗号化が必要である．小型デバイスに搭載する暗号として軽量暗号が存在する．軽量暗号の国際標準規格に採択されているアルゴリズムとしてブロック暗号 CLEFIA がある．暗号回路に対する攻撃であるサイドチャネル攻撃の 1 種として，スキャンパステストで用いるスキャンチェインを悪用したスキャンベース攻撃が報告されている．スキャンパステストは LSI のテスト容易化技術の 1 つであり，回路内にスキャンチェインを搭載することでテストを効率化する．スキャンチェインは集積回路内のレジスタを直列に繋いでおり，外部から内部レジスタを観測や制御できる．本稿では軽量暗号 CLEFIA に対するスキャンベース攻撃を提案する．提案手法は入力メッセージを使い，内部レジスタとスキャンチェインから得られるスキャンデータの対応付けすることで攻撃する．2 種類のアーキテクチャに対しての攻撃手法を提案する．計算機実験により，CLEFIA 回路とその他制御回路などの周辺回路のレジスタがスキャンチェインに存在している場合でも，提案手法によりを用いることで CLEFIA 回路の秘密鍵を復元することに成功した．},
 pages = {116--121},
 publisher = {情報処理学会},
 title = {スキャンシグネチャを用いた周辺回路を含む軽量暗号CLEFIAに対するスキャンベース攻撃},
 volume = {2017},
 year = {2017}
}