SATソルバを用いた信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタン生成手法について

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2016-11-21
• タイトル: SATソルバを用いた信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタン生成手法について
• タイトル / 言語: en
• タイトル: On SAT based test pattern generation for transition faults considering signal activities
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: テスト生成，テスト容易化設計
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 九州大学大学院システム情報科学研究院
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Faculty of Information Science and Electorical Engineering, Kyushu University
• 著者名: 松永, 裕介
• 著者名(英): Yusuke, Matsunaga
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 本稿では信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタンを生成する SAT ソルバを用いた手法について考察を行う．通常の SAT ソルバを用いた手法では故障を検出する論理的な制約を満たすテストパタンが唯一得られるだけで信号遷移回数のコントロールを行うことはできない． そこで，SAT を用いたテストパタン生成アルゴリズムに修正を行って，故障検出を行うパタンの集合を積和形論理式の形で出力し， そこからランダムサンプリングを行い，そのなかから信号遷移回数の少ないパタンを選択する手法を提案する．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: This paper presents a test pattem generation method with considering signal transition activities using a SAT solver. A simple SAT based test pattem generation method can only find a single pattem per a fault, which does not consider the signal transition activities. The proposed method employs a modified SAT based test pattem generation algorithm which generates a sum of products form representing a set of test pattems. Test pattems are generated using random sampling from the sum product form, and the best one is selected with respect to the signal transition activities.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 研究報告システムとLSIの設計技術（SLDM）; 巻 2016-SLDM-177, 号 21, p. 1-5, 発行日 2016-11-21
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-8639
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会