仮想マシンエミュレータを用いた特定故障パターン発生時におけるアプリケーションの誤差の評価

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2016-08-01
• タイトル: 仮想マシンエミュレータを用いた特定故障パターン発生時におけるアプリケーションの誤差の評価
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: 耐故障システム
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 東京工業大学
• 著者所属: 東京工業大学
• 著者所属: 東京工業大学
• 著者所属: 東京工業大学
• 著者名: 小林, 佑矢; 實本, 英之; 野村, 哲弘; 松岡, 聡
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 高性能計算機の規模は年々大きくなっている．大規模化に伴う故障率の増加により，Silent Data Corruption (SDC) と呼ばれる問題が深刻になると予想されている．SDC はアプリケーションが異常な結果を出力するが，停止には至らないため計算結果の誤りを検知できない障害である．SDC に対処するため多くの研究が行われたが，計算機の変化とともに故障の種類や発生傾向も変化しており，新たな耐故障手法が求められている．本研究は連続したメモリデータの破壊または複数のビットエラーが DRAM 上に発生した際に，NAS Parallel Benchmark の CG カーネルに現れる SDC の調査を目的とする．またそのために，DRAM に特定の故障パターンを注入する故障発生器を，仮想マシンエミュレータである QEMU を拡張して作成した．これにより，SDC が発生しうること，アプリケーションの特性により SDC の発生割合が約 5%減少することを確認した．また連続したデータ破壊が発生したとき，アプリケーションは約 80%の割合で正常な結果を返すが，同じビット数のビットエラーを注入した際には約 90%の割合で異常終了することを確認した．
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AN10463942
• 書誌情報: 研究報告ハイパフォーマンスコンピューティング（HPC）; 巻 2016-HPC-155, 号 10, p. 1-7, 発行日 2016-08-01
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-8841
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会