@inproceedings{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00156967, author = {大江, 信宏 and 高瀬, 治彦 and 北, 英彦 and 林, 照峯 and Oe, Nobuhiro and Takase, Haruhiko and Kita, Hidehiko and Hayashi, Terumine}, book = {情報科学技術フォーラム一般講演論文集}, issue = {1}, month = {Aug}, pages = {217--218}, publisher = {情報処理学会}, title = {C-020 ブロードサイドテスト用N回検出テスト集合のコンパクション手法(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ)}, volume = {6}, year = {2007} }