@inproceedings{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00156967,
 author = {大江, 信宏 and 高瀬, 治彦 and 北, 英彦 and 林, 照峯 and Oe, Nobuhiro and Takase, Haruhiko and Kita, Hidehiko and Hayashi, Terumine},
 book = {情報科学技術フォーラム一般講演論文集},
 issue = {1},
 month = {Aug},
 pages = {217--218},
 publisher = {情報処理学会},
 title = {C-020 ブロードサイドテスト用N回検出テスト集合のコンパクション手法(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ)},
 volume = {6},
 year = {2007}
}