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アイテム
C-020 ブロードサイドテスト用N回検出テスト集合のコンパクション手法(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ)
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/156967
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/15696723be2224-8066-4570-886c-25103d340189
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
KJ00006542370.pdf (224.4 kB)
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Copyright (c) 2007 by IEICE,IPSJ
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| Item type | FIT(1) | |||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2007-08-22 | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | C-020 ブロードサイドテスト用N回検出テスト集合のコンパクション手法(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ) | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| タイトル | C-020 N-Detection Test Set Compaction Method for Broad-Side Delay Testing | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||
| 三重大学大学院工学研究科 | ||||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||
| 三重大学大学院工学研究科 | ||||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||
| 三重大学大学院工学研究科 | ||||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||
| 三重大学大学院工学研究科 | ||||||||||||||
| 著者名 |
大江, 信宏
× 大江, 信宏
× 高瀬, 治彦
× 北, 英彦
× 林, 照峯
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| 著者名(英) |
Oe, Nobuhiro
× Oe, Nobuhiro
× Takase, Haruhiko
× Kita, Hidehiko
× Hayashi, Terumine
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| 書誌レコードID | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||
| 収録物識別子 | AA11740605 | |||||||||||||
| 書誌情報 |
情報科学技術フォーラム一般講演論文集 巻 6, 号 1, p. 217-218, 発行日 2007-08-22 |
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| 出版者 | ||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||||||||
