@inproceedings{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00156269,
 author = {福本, 聡 and 黒川, 晴申 and 新井, 雅之 and 岩崎, 一彦 and Fukumoto, Satoshi and Kurokawa, Harunobu and Arai, Masayuki and Iwasaki, Kazuhiko},
 book = {情報科学技術フォーラム一般講演論文集},
 issue = {1},
 month = {Aug},
 pages = {195--196},
 publisher = {情報処理学会},
 title = {C_017 VLSIのランダムパターンテストにおける残存故障数分布について(C分野:ハードウェア)},
 volume = {5},
 year = {2006}
}