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C_017 VLSIのランダムパターンテストにおける残存故障数分布について(C分野:ハードウェア)
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/156269
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/156269f290aaf8-d74b-45f5-9f5f-308512343c47
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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KJ00006541833.pdf (167.4 kB)
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Copyright (c) 2006 by IEICE,IPSJ
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| Item type | FIT(1) | |||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2006-08-21 | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | C_017 VLSIのランダムパターンテストにおける残存故障数分布について(C分野:ハードウェア) | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| タイトル | C_017 On the Distribution of a Residual Faults Number in VLSI Random Pattern Testing | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||
| 首都大学東京大学院工学研究科 | ||||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||
| 首都大学東京大学院工学研究科 | ||||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||
| 首都大学東京大学院工学研究科 | ||||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||
| 首都大学東京大学院工学研究科 | ||||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||||
| en | ||||||||||||||
| Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University | ||||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||||
| en | ||||||||||||||
| Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University | ||||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||||
| en | ||||||||||||||
| Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University | ||||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||||
| en | ||||||||||||||
| Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University | ||||||||||||||
| 著者名 |
福本, 聡
× 福本, 聡
× 黒川, 晴申
× 新井, 雅之
× 岩崎, 一彦
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| 著者名(英) |
Fukumoto, Satoshi
× Fukumoto, Satoshi
× Kurokawa, Harunobu
× Arai, Masayuki
× Iwasaki, Kazuhiko
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| 書誌レコードID | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||
| 収録物識別子 | AA11740605 | |||||||||||||
| 書誌情報 |
情報科学技術フォーラム一般講演論文集 巻 5, 号 1, p. 195-196, 発行日 2006-08-21 |
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| 出版者 | ||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||||||||
