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アイテム
A-020 乱数度測定器RMTテストにおける高乱数度判定基準の再考(A分野:モデル・アルゴリズム・プログラミング,一般論文)
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/151993
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/15199334b52bbe-8af1-4578-bd4f-3f6af16ab4e8
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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![]() |
Copyright (c) 2013 by IEICE,IPSJ
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Item type | FIT(1) | |||||||||||||
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公開日 | 2013-08-20 | |||||||||||||
タイトル | ||||||||||||||
タイトル | A-020 乱数度測定器RMTテストにおける高乱数度判定基準の再考(A分野:モデル・アルゴリズム・プログラミング,一般論文) | |||||||||||||
タイトル | ||||||||||||||
言語 | en | |||||||||||||
タイトル | A-020 Reconsidering Criteria of the RMT-test as a Tool to Measure the Randomness | |||||||||||||
言語 | ||||||||||||||
言語 | jpn | |||||||||||||
資源タイプ | ||||||||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||||
資源タイプ | conference paper | |||||||||||||
著者所属 | ||||||||||||||
鳥取大学大学院工学研究科情報エレクトロニクス専攻 | ||||||||||||||
著者所属 | ||||||||||||||
鳥取大学大学院工学研究科情報エレクトロニクス専攻 | ||||||||||||||
著者所属 | ||||||||||||||
鳥取大学大学院工学研究科情報エレクトロニクス専攻 | ||||||||||||||
著者所属 | ||||||||||||||
鳥取大学大学院工学研究科情報エレクトロニクス専攻 | ||||||||||||||
著者名 |
三賀森, 悠大
× 三賀森, 悠大
× 楊, 欣
× 田中, 美栄子
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著者名(英) |
Mikamori, Yuta
× Mikamori, Yuta
× Yang, Xin
× Tanaka-Yamawaki, Mieko
× Tanaka-Yamawaki, Mieko
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書誌レコードID | ||||||||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||
収録物識別子 | AA1242354X | |||||||||||||
書誌情報 |
情報科学技術フォーラム講演論文集 巻 12, 号 1, p. 185-188, 発行日 2013-08-20 |
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出版者 | ||||||||||||||
言語 | ja | |||||||||||||
出版者 | 情報処理学会 |