隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2015-11-24
• タイトル: 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について
• タイトル / 言語: en
• タイトル: On discrimination method of a resistive open using delay variation induced by signal transitions on adjacent lines
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: メモリテストとタイミング
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻電気電子創生工学コース
• 著者所属: 徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門
• 著者所属: 徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門
• 著者所属: 愛媛大学大学院理工学研究科
• 著者所属: 愛媛大学大学院理工学研究科
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Advanced Technology and Science, Tokushima University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Institute of Technology and Science, Tokushima University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Institute of Technology and Science, Tokushima University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Science and Engineering, Ehime University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Science and Engineering, Ehime University
• 著者名: 伊勢, 幸太郎; 四柳, 浩之; 橋爪, 正樹; 樋上, 喜信; 高橋, 寛
• 著者名(英): Kotaro, Ise; Hiroyuki, Yotuyanagi; Masaki, Hashizume; Yoshinobu, Higami; Hiroshi, Takahashi
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: IC 内で発生する半断線故障は抵抗成分を持ち，故障の影響は微小遅延として顕在化する．また，トランジスタのばらつきの影響による遅延変動も存在するため，故障の判別は困難になる．隣接配線を持つ配線の信号遅延は，隣接線での信号遷移の影響を受け，また，その遅延変動は故障の有無によっても異なる．本研究では，複数の入力信号に対する遅延の分布を用いて故障判別を行う手法を検討する．電磁界および回路シミュレータを用いて隣接線を持つ配線レイアウトを作製し，隣接線の信号遷移パターンを変化させた際の正常回路と故障回路におけるそれぞれの遅延量を測定する．その遅延量を特徴量とする異常検知による製造ばらつきの影響下での半断線故障の判別法の有効性について調査を行う．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: The effect of a resistive open results in small delay in an IC. It is difficult to test small delay since signal delay also varies by parameter variations such as transistor size. Signal delay of a line with adjacent lines is affected by the signal transition of the adjacent lines. Moreover, the delay variation also depends on the existence of a fault. In this study, a discrimination method is proposed that utilizes delay distributions obtained by the various input signals. We examined the circuit delay in a fault-free circuit and a faulty circuit by applying electromagnetic simulator and circuit simulatior for a line layout with adjacent lines. We investigate the effectiveness of the method that discriminates a resistive open using anomaly detection from delays obtained by the simulation.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 研究報告システムとLSIの設計技術（SLDM）; 巻 2015-SLDM-173, 号 6, p. 1-6, 発行日 2015-11-24
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-8639
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会