@inproceedings{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00127018,
 book = {全国大会講演論文集},
 issue = {ハードウェア},
 month = {Sep},
 note = {VHDLなどのハードウェア記述言語による高位記述が一般的になっているが、その一方で、高性能CPUなどの場合、性能にクリテイカルなブロックについてはゲートレベルの論理設計も行われている。この不良追跡のためにはブロック単体のゲートレベル・シミュレーションが処理速度、扱い規模の点から現実的であるが、テストパタンの作成が困難である。理由は、回路全体の外部インタフェース仕様に較べて回路内部のブロック間インタフェース仕様はより複雑になること、ブロック単体の動作を理解しなければならないことが挙げられる。そこで、図1に示すように高位記述の全体シミュレーションから波形を抽出し、ブロック単体用パタンとして利用することが考えられる。抽出波形を利用するには、これを入力であれば入力波形へ、出力であれば期待波形に分類しなければならない。ここで、バスに接続する入出力の両方に用いられる双方向ポートについては、シミュレーション実行時に初めて方向が判明するため、抽出の瞬間における入出力方向を判定する必要がある。本報では、VHDLシミュレーションにおいて、バスに接続する双方向ポートに関する、データの入出力方向を判定する方法を提案する。},
 pages = {133--134},
 publisher = {情報処理学会},
 title = {VHDLシミュレーションにおけるバス入出力方向判定方式},
 volume = {第49回},
 year = {1994}
}