@article{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00012036,
 author = {渡邉, 猛夫 and 篠木, 剛 and 林, 照峯 and Isao, Watanabe and Tsuyoshi, Shinogi and Terumine, Hayashi},
 issue = {4},
 journal = {情報処理学会論文誌},
 month = {Apr},
 note = {本論文は，IDDQテスト法を用いてブリッジ故障を検出するための，コンパクトなテストパターン集合を生成する手法について述べる．すでに提案されている乱数逐次改善法を用いたgreedy生成法cite{ref5 ref6}では，検出が容易な故障から優先して検出するテストパターンが生成されていくという性質があるが，新手法では，それとは反対に，できるだけ検出が困難な故障から優先して検出されるようにテストパターンを生成することによって，テストパターン数がより少ないIDDQテスト集合を生成する．評価実験結果により有効性を示す．, This paper presents a generation method of compact IDDQ test setsfor detecting bridging faults. In the previously proposed method(a greedy method using iterative improvement ofrandom patterns cite{ref5,ref6}),easy-to-detect faults tend to be detected by the patterns generatedearlier in the test set.On the contrary, in the new method proposed in this paper,hard-to-detect faults are detected bythe patterns generated earlier in the test set,which leads to decrease the number of test patterns.The experimental results demonstrate its effectiveness.},
 pages = {1030--1035},
 title = {故障検出困難度を利用したコンパクトなIDDQテスト集合生成法},
 volume = {42},
 year = {2001}
}