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MOS論理回路の故障シミュレーションとテスト生成の一方法
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/116740
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/11674074d28572-0bc5-4380-b41a-6c049bde2198
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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KJ00003117897.pdf (127.3 kB)
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| Item type | National Convention(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1989-03-15 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | MOS論理回路の故障シミュレーションとテスト生成の一方法 | |||||
| タイトル | ||||||
| 言語 | en | |||||
| タイトル | A method of fault simulation and test generation for MOS logical circuits | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 防衛大学校 | ||||||
| 著者所属 | ||||||
| 防衛大学校 | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| National Defense Academy | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| National Defense Academy | ||||||
| 論文抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 従来MOS論理回路をタスクとして扱うスイッチレベルシミュレーションの方法を提案しているが、論理値を0、1と不定だけしか定義していなかったため、特に短絡故障においては、実際の故障回路を測定した結果とシミュレーション結果が一致しないことがある。本報告では、タスクモデルによるシミュレーションを拡張したスイッチレベル故障シミュレーションと各故障のためのテスト入力の生成の方法等について提案する。 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00349328 | |||||
| 書誌情報 |
全国大会講演論文集 巻 第38回, 号 ハードウェア, p. 1319-1320, 発行日 1989-03-15 |
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| 出版者 | ||||||
| 言語 | ja | |||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||
