@inproceedings{oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00115367,
 book = {全国大会講演論文集},
 issue = {ソフトウェア工学},
 month = {Sep},
 note = {近年,大規模化,複雑化するシステムにおいてソフトウェア品質、特に信頼性に対する要求が増々厳しくにつれ,プログラムやシステムのテストに費やされる費用も,全費用の50%以上になっているのが現状である。テストを行うにあたり,もっとも重要な考えは、効果的なテストケースを設計することであり,時間・コスト等の制約条件を考えた上で,エラーの発見確率の高いテストケースのサブセットを使用することである。信頼性を向上させるためのテスト項目設計技法としては論理網羅テスト,同値分析,限界値分析,原因-結果グラフなど様々な技法が考えられている。この中で原因-結果グラフは,系統的な方法で,エラー発見効率の高いテスト・ケースを選ぶのに助けになる技法として知られている。また,この技法を使用することにより,仕様の不備やあいまいさを指摘できる価値の高い副次的効果を持っていることも知られている。},
 pages = {736--737},
 publisher = {情報処理学会},
 title = {原因-結果グラフ技法を用いたレビュー支援ツール : SVA : Software Verification Aids},
 volume = {第37回},
 year = {1988}
}