2026-04-18T13:05:27Z https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/oai

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SVMによる誤差を含むクラス分類におけるCMOSアニーリングマシンの性能評価 水木, 直也 福原, 諒河 森下, 誠 河合, 直聡 片桐, 孝洋 星野, 哲也 永井, 亨 コンピュータシステム 量子アニーリングが注目されており，その中でも疑似量子アニーラのサービスが展開されている．一方で、サポートベクターマシン（SVM）は広くクラス分類に使われているが，疑似量子アニーラでの評価は十分でない．そこで本研究では，疑似量子アニーラの一つであるCMOSアニーリングマシンでSVMにより誤差を有するクラス分類を行い，その性能を評価する．性能評価では2値分類問題における正解率を評価対象とし，訓練データの誤差の割合ごとに，従来のCPUにおけるSVMとCMOSアニーリングマシンにおけるSVMを比較する． conference paper 情報処理学会 2024-03-01 application/pdf 第86回全国大会講演論文集 1 2024 19 20 AN00349328 https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/record/235621/files/IPSJ-Z86-1J-01.pdf jpn