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oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00210482 2025-01-19T18:08:46Z 1164:1579:10482:10561

コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法 A Controller Augmentation Method to Improve Transition Fault Coverage 飯塚, 恭平 細川, 利典 山崎, 紘史 吉村, 正義 Kyohei, Iizuka Toshirori, Hosokawa Hiroshi, Yamazaki Masayoshi, Yoshimura 高信頼化技術 近年，VLSI の微細化，高速化，電源電圧の低下に伴い，遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっている．しかしながら，遷移故障のテスト生成では，一般に VLSI の回路構造と機能に起因する多くのテスト不能故障が同定される．目標故障がテスト不能である場合，その場所をカバーするテストが欠落する．その結果，欠陥が検出可能であっても，テスト集合はその場所周辺の欠陥を検出しない可能性がある．それゆえ，遷移故障モデルにおける故障検出率向上のためのテスト容易化設計が重要である．コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当ての指標として，QDT 値が提案されている．本論文は，拡張 QDT 値を用いて状態レジスタ間の活性化可能な経路数を増大させるために，コントローラに追加状態遷移を挿入する手法を提案する．MCNC’91 ベンチマーク回路に対する実験結果は，提案手法の適用によって遷移故障検出率が向上したことを示す． With shrinking feature sizes, growing clock frequencies, and decreasing power supply voltage, modern VLSIs are increasingly suffering from the impact of timing related defects. Therefore, transition fault testing is necessary. However, test generation for transition faults generally identifies many untestable faults due to the circuit structures and functions of VLSIs. When a target fault is untestable, a test that would have covered its site is missing from the test set. As a result, the test set might not detect defects around this site, even if the defects are detectable. Therefore, design-for-testability to improve transition fault coverage is very important. QDT value were proposed as testability measure of transition fault testing for state assignments of controllers. This paper proposes a method to insert additional state transitions into controllers using extended QDT value to increase the number of sensitizable paths between state registers. Experimental results for the MCNC'91 benchmark circuits show that transition fault coverage for controllers was improved by applying our proposed method. technical report 情報処理学会 2021-03-18 application/pdf 研究報告システム・アーキテクチャ（ARC） 33 2021-ARC-244 1 6 2188-8574 AN10096105 https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/record/210482/files/IPSJ-ARC21244033.pdf jpn