2026-03-10T06:09:42Z https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/oai

oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00187460 2025-01-20T02:15:42Z 1164:2036:9343:9474

データキャッシュに対する不揮発性パワーゲーテイング適用方法の検討と評価 Non-volatile Power Gating for Data Cache with Dynamic Line-selection 秋葉, 爽輔 宇佐美, 公良 Sosuke, Akiba Kimiyoshi, Usami 回路設計技術 近年，CPU全体の消費エネルギーにおいて，キャッシュメモリの消費エネルギーが占める割合が増大している．不揮発性パワーゲーテイング (PG) とは，キャッシュを構成する SRAM に不揮発性素子 MTJ を適用して不揮発化することで，PG 中にデータを保持しながらキャッシュのリーク電力を削減する技術である．しかし，ライトバック方式のデータキャッシュについて PG を行うと，メインメモリに書き込まれるべき情報が失われ，キャッシュコヒーレンシの維持ができないという問題がある．本研究では，Decay ミスの参照局所性を基に記憶ラインを選択する，データキャッシュに適用可能な不揮発性 PG 手法を検討した．そして，提案手法によるリーク電力の削減について評価を行った． In the whole of CPU, the proportion of energy consumption of the cache is increasing. Non-volatile Power Gating (NVPG) is a technique of reducing the leakage power of the cache while keeping the stored data by applying the nonvolatile element MTJ to the SRAM that is constituting the cache. However, when PG is applied to data cache with Write-back writing system, there is a problem that information to be written in the main memory is lost and cache coherency cannot be maintained. In this paper, we examine the NYPG method applicable to the data cache that selects storage line based on decay miss density. Moreover, we evaluate the reduction of leakage power by the proposed method. technical report 情報処理学会 2018-05-09 application/pdf 研究報告システムとLSIの設計技術（SLDM） 4 2018-SLDM-184 1 6 2188-8639 AA11451459 https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/record/187460/files/IPSJ-SLDM18184004.pdf jpn