2026-05-20T16:22:06Z https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/oai

oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00186037 2025-01-20T02:44:02Z 1164:2240:9411:9412

メモリアクセスパターン依存故障の注入のためのQEMUベース故障注入器 小林, 佑矢 實本, 英之 野村, 哲弘 松岡, 聡 メモリ 近年，大規模計算機システムでの故障の増加が問題になっている．様々な耐故障技術が開発されたが，オーバーヘッドと耐故障性の間にトレードオフがあり，適切な手法の選択が難しい．耐故障技術の評価には故障注入が用いられるが，既存の故障注入器ではハードウェア特有の故障を再現し，アプリケーションレベルの詳細な解析ができない．我々は，ハードウェアに特有の故障を再現し，アプリケーションレベルの解析を容易に行える故障注入プラットフォームの提供を目的とする．本研究では，故障の主な発生源の一つである DRAM を対象にして，メモリアクセスパターン依存故障をメモリ I / O フックにより注入した上で，耐故障性テスト対象のプロセスのメモリマップ情報を取得できる QEMU ベース故障注入器 MH - QEMU を作成した．評価では，MH - QEMU の故障注入機能使用時には，テスト対象アプリケーションの実行時間が最良の場合でも 77 倍になることを確認した．中でも，メモリインテンシブであったり，ノード間通信が少ないアプリケーションほどオーバーヘッドが大きいことを確認した．また，MH - QEMU で NAS Parallel Benchmark の CG カーネルの耐故障性評価を行い，Row - Hammer 発生時に Silent Data Corruption につながりやすいデータ領域を特定した． technical report 情報処理学会 2018-02-21 application/pdf 研究報告ハイパフォーマンスコンピューティング（HPC） 8 2018-HPC-163 1 10 2188-8841 AN10463942 https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/record/186037/files/IPSJ-HPC18163008.pdf jpn